Op de Instrumentatie & Analyse Dagen op 20 en 21 juni 2017 wordt in een aparte track aandacht besteed aan de basis van de technologie voor zowel flow, druk, niveau, temperatuur als analyse apparatuur. In de trilogie van Basics of … flow worden op 20 juni de grote lijnen geschetst door drie specialisten. Vanuit basisaspecten zoals medium, druk, temperatuur, viscositeit, Reynolds en algemene applicatiegegevens worden de diverse meettechnieken voor flow besproken. Op 21 juni 2017 wordt ingegaan op niveaumetingen. Onnauwkeurige niveaumetingen hebben namelijk een directe impact op de winstgevendheid van een fabriek of installatie. Zo werkt een overflow veiligheids- en milieuproblemen in de hand en veroorzaken te lage niveaus mogelijk schade aan pompen. Met onjuiste niveaumetingen loopt een productieplant het risico op een inferieur product of inefficiëntie in het productieproces. Het geheugen is op te frissen in een sessie over de basisprincipes van niveaumetingen met druktransmitters door Yokogawa. Een andere manier van niveaumetingen wordt gedaan met radar technologie. De afgelopen twintig jaar heeft deze technologie zichzelf bewezen als het gaat om niveaumetingen in de moeilijkste toepassingen. Maar welk radar meetprincipe pas je toe: guided-wave of contactloos? En met welke meetfrequentie? Tijdens de ‘Basics of’ lezing radar niveaumeting door Endress+Hauser wordt besproken hoe procesinvloeden zoals meetbereik, schuim, gasfases, bypasses, condensatie, turbulentie, hoge temperaturen, obstructies en vloeistof/vaste stof de keuze voor de radar met de juiste meetfrequentie bepalen.